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      粒形分析儀采樣分析

      發布日期: 2018-11-15
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         粒形分析儀采樣分析
        粒形分析儀采用激光光阻技術,不需要任何假設或樣品特性,可直接測定微粒的粒度分布(0.1-3600微米)。這種*的分析技術,被稱為“Laser Obscuration Time”激光光阻技術(LOT)。
        LOT與其他激光衍射技術相比的主要優勢是其較高的分辨率,通過對小范圍的檢測從而得到更好的測量精度。使用LOT技術主要好處是,即使有任何其他顆?;蚪橘|的物理或化學性質影響,仍得到可靠地測量結果。配套的軟件,通過分析計算復雜的多脈沖信號光阻時間,可在幾秒鐘內得到清楚和精確的顆粒分布測量結果。
        粒形分析儀實時可視化采樣,有效地讓用戶可以輕松地監測樣品準備過程或受污染情況,同時也為了避免樣品無關的或不必要的組分影響分析結果。
        采用*的激光光阻法進行快速的粒徑測量;
        采用復雜的動態圖像分析法,地分析顆粒粒形;
        測量結果直接且僅取決于顆粒大??;
        測量結果不受顆?;蚪橘|的物理和光;
        測量結果直接與顆粒大小相關,而非推算出來;
        無需了解樣品的折射指數;
        能分析半透明和透明的樣品激光和圖像通道的結合*地結合了激光光阻法和復雜的動態粒形圖像分析技術;
        對球形、非球形及延長顆粒的分析定性;
        可同時測量粒徑、形狀和濃度多種樣品池和光學元件配置可滿足不同類型的干法及濕法檢測需求;
        測量過程中可實時觀察樣品顆粒圖像。
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